关于征求《量子技术 超高反射率光学薄膜性能表征及测量方法》推荐性国家标准意见的函
来源:SAC/TC 578 秘书处 发布时间:2026-07-17

各位专家,各有关单位:

根据国家标准制修订计划安排,由全国量子技术标准化技术委员会(SAC/TC 578)归口管理的《量子技术 超高反射率光学薄膜性能表征及测量方法》推荐性国家标准(计划号:20255414-T-469)已完成征求意见稿(附件1、2)。为进一步提高国家标准质量,现面向社会广泛征求意见。

请于9月13日前填写《国家标准征求意见表》(附件3),并将电子版(doc)和盖章扫描件(pdf)反馈至tc578@jiqt.org。

TC578秘书处联系人:王超凡,0531-66680288

附件:

1.《量子技术 超高反射率光学薄膜性能表征及测量方法(征求意见稿)》.pdf

2.《量子技术 超高反射率光学薄膜性能表征及测量方法(征求意见稿)》编制说明.pdf

3.国家标准征求意见表.doc



全国量子技术标准化技术委员会

2026年7月17日

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